| 品牌langer-emv | 有效期至長期有效 | 最后更新2021-08-16 11:26 |
| 瀏覽次數12 |
| 祁佳強 QQ：2850590582 手機：17744536447 電話：010-64714988-216 傳真：010-64714988-668 郵件：tk7@handelsen.cn |
 |
 |
H 場探針 LFS-B 3 的測量線圈直面位于軸上。垂直使用探針尖端可確保其直接放置在要測量的組件或設備上。
這允許在通常難以訪問的印刷電路板表面的位置使用，例如在交換控制器的大型組件之間。
LFS-B 3 是一種被動近場探針，用于掃描儀，用于測量開發過程中的磁場。LFS-B 3 檢測從測量對象發射的磁場線 90°。橫向進入探針的磁場線未被檢測到。近場探針體小且方便。它有一個電流衰減護套，因此，電屏蔽。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω輸入的示波器。H 場探針的內部終止電阻為 50 Ω。
| 頻率范圍 | 100 kHz...50 MHz |
| 分辨率 | ≈ 2 毫米 |
| 探頭尺寸 | • ≈ 4 毫米 |
| 連接器 - 輸出 | SMB， 男性， 千斤頂 |
| 頻率響應 [dBμV] / [dBμA/m] | ![頻率響應 [dBμV] / [dBμA/m]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_frequency%20response_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| H 字段校正曲線 [dB+/m] / [dBμV] | ![H 字段校正曲線 [dB+/m] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_H-field%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 當前修正曲線 [dB+A] / [dBμV] | ![當前修正曲線 [dB+A] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_Current%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 測量原理 |  |
工作日
9:00-18:00
客服熱線：
