漢達森專業銷售langer-emv掃描儀探頭RFS系列

       RFS 集

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　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS 設置了三個被動近場探針，用于在電子場和磁場開發過程中用于測量掃描儀。

　　RFS-R 50

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-R 50 H 場探針設計用于在大約 3 厘米的距離內對組件、設備或電纜進行現場測量。H 場探針可用于識別較大的組件作為干擾源。

　　RFS-R 3-2

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz
漢達森 祁佳強177*4453*6447

　　RFS-R 3-2 掃描儀探頭用于直接在組件上高分辨率測量射頻磁場，例如圍繞引腳和 IC 盒的范圍、導路、電容器和 EMC 組件脫鉤。

　　RFS-R 0.3-3

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-R 0.3-3具有小型探頭，可以測量高分辨率的磁場。因此，即使是最小的組件也可以被檢測為干擾源。此外，小型探頭適用于難以到達的點(例如IC引腳附近)的測量。

　　RFS-B 3-2

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-B 3-2 H 場掃描儀探測器的測量線圈正交排列到探針軸上。這使得探頭的位置非常接近組件，并實現強大的耦合。RFS-B 3-2 探測磁場線，磁場線會以極點方式退出測量對象。M...

　　RFS-B 0.3-3

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　掃描儀探頭射頻-B 0.3-3專為極小規模磁場檢測而設計。探頭內的線圈位于軸的 90° 角。對于測量，它可以直接定位到測量對象上。

　　射頻-E 03

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　使用位于 RFS-E 03 探頭底部的大約 4x4 mm 電極，可以檢測到來自時鐘線、IC 銷和較小組件的電子場。

　　射頻-E 10 漢達森 祁佳強177*4453*6447

　　掃描儀探頭 30 MHz 至 3 GHz

　　RF-E 10 掃描儀探頭下方的電極寬度約 0.2 mm，可定位最小的電子場源，例如導電路徑，寬度為 0.1 mm，或高引腳 ICs 的單個 IC 銷。